雙層高低溫試驗(yàn)箱由兩個(gè)上下疊層設(shè)置的箱體、機(jī)械柜及配電柜組成,兩個(gè)箱體彼此可以獨(dú)立控制,互補(bǔ)干擾,測(cè)試效率高,且通過一套制冷系統(tǒng)控制兩個(gè)箱體的制冷,提高制冷系統(tǒng)利用率。雙層高低溫試驗(yàn)箱一般適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)(可選購(gòu)帶濕度高低溫箱),對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
準(zhǔn)時(shí)交貨率高達(dá)99% 立即咨詢二機(jī)一體,節(jié)省空間,使用方便
采用斜率式全銅翅片蒸發(fā)器
附RS-485/RS-232或以太網(wǎng)口、CAN口,開放通訊協(xié)議,方便聯(lián)控
上排風(fēng)設(shè)計(jì),節(jié)省場(chǎng)地,散熱效果好
采用進(jìn)口高精度電容濕度傳感器,高精度A級(jí)PT100,溫濕度測(cè)量精度更高;
GB/T5170.2-2017環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第2部分:溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫。
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫。
GJBI50.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
GJBI50.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。
備案號(hào):粵ICP備11018191號(hào)
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