熱門關(guān)鍵詞: 高低溫試驗箱 可程式恒溫恒濕試驗箱 PCT高壓加速老化試驗機 無風(fēng)烤箱 鹽霧試驗箱
產(chǎn)品特點:
用戶可以查看他們希望查看任何數(shù)據(jù)
通過電腦安全便捷的遠程訪問
多層級的敏感數(shù)據(jù)保護
便捷的程序入口、試驗設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控
試驗數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進行傳輸
HAST測試條件有130℃、85%RH、230KPa大氣壓,96hour測試時間。
HAST試驗箱是利用高溫(通常為130 ℃)、高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件(達3 atm)來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的密封封裝的試驗設(shè)備,用于評估產(chǎn)品及材料在高溫,高濕,高氣壓條件下對濕度的抵抗能力,加速其失效過程。
該試驗檢查芯片及其他材料長期貯存條件下,高溫和時間對器件的影響。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗證測試階段的HAST測試需求,僅針對非密封封裝(塑料封裝),帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測試。
內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水,符合國家安全容器規(guī)范;
三道高溫保護裝置、濕度用水?dāng)嗨Wo與電熱斷水空焚保護、機臺停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構(gòu)壓力保護等
壓力值采實際感應(yīng)偵測,確保溫度、濕度及壓力值準確度;
濕度自由選擇飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)自由設(shè)定;
支持電腦連接,
利用USB數(shù)據(jù)、
曲線導(dǎo)出保存
GB-T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2-66-1994 環(huán)境試驗 第2-66部分:試驗方法 試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽合加壓蒸汽)
JESD22-A100 循環(huán)溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108 溫度,偏置電壓,以及工作壽命(IC壽命試驗)
JESD22-A110 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(HAST)
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
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