熱門關(guān)鍵詞: 高低溫試驗(yàn)箱 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 無風(fēng)烤箱 鹽霧試驗(yàn)箱
品牌:Riukai/瑞凱儀器
內(nèi)箱容積(可選):100L、150L、225L、408L、800L、1000L(可非標(biāo)定制);
溫度范圍(可選):-70~150℃、-60~150℃、-40~150℃、-20~150℃、0~150℃(可非標(biāo)定制)
升溫時(shí)間:1~3℃/min(可非標(biāo)定制)
降溫時(shí)間:約1℃/min(可非標(biāo)定制)
適用范圍:電子元器件、高分子材料、汽車零部件、光伏太陽能、LED燈、軍工電子產(chǎn)品等各種產(chǎn)品材料。
高低溫濕熱試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、各種電子元器件及材料在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下,檢驗(yàn)其可靠性各項(xiàng)性能指標(biāo)的儀器設(shè)備。
高溫時(shí)可測試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象(如:填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化等);在低溫時(shí)可測試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象(如:材料發(fā)硬變脆、電子元器件性能發(fā)生變化、水冷凝結(jié)冰、材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化等)。
自主研發(fā)控制系統(tǒng)(軟著登字第3642019號),具有制冷PID控制和高速處理能力,控制小制冷量,節(jié)省耗電作用;
可配置風(fēng)冷或水冷制冷系統(tǒng)和高溫側(cè)的溫度控制范圍(+150°C或+180°C)。
可以根據(jù)使用條件選擇門、觀察窗和操作孔的組合,按需定制尺寸大小及溫度范圍。
運(yùn)行音量可達(dá)65db極致靜音標(biāo)準(zhǔn);
支持電腦連接,利用USB數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存;
經(jīng)國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測檢測,符合“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件”系列標(biāo)準(zhǔn)中的:
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.3-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱 (12h+12h循環(huán))
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008
高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 等
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