閃存（Flash Memory）是一種長壽命的非易失性（在斷電情況下仍能保持所存儲的數(shù)據(jù)信息）的存儲器，并且是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種，不需電力來維持?jǐn)?shù)據(jù)的儲存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用于儲存程序代碼，后者用于儲存數(shù)據(jù)。閃存應(yīng)用范圍涵蓋汽車電子、因特網(wǎng)、存儲器、DSL 電纜調(diào)制解調(diào)器、數(shù)字電視、照相手機(jī)、藍(lán)芽、 GPS、工業(yè)電子…等等。

    閃存溫度測試原因

     為確保閃存可在極端溫度環(huán)境（例如: 油氣探勘、重工業(yè)以及航空領(lǐng)域）可正常實現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀/寫操作功能，因此在出廠前需要進(jìn)行溫度測試，RIUKAI超高速高低溫交變濕熱試驗箱憑借可測試溫度 -70℃至+150℃，每秒可快速升溫或降溫30℃，溫度精度±0.1℃等優(yōu)勢廣泛應(yīng)用于閃存制造行業(yè)。瑞凱儀器作為中國自主品牌環(huán)境溫濕度試驗設(shè)備制造商，從高低溫交變濕熱試驗箱的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及售后等一系列服務(wù)，為用戶提供更便捷、可靠的技術(shù)產(chǎn)品。

    閃存溫度測試方法

    通過與 內(nèi)存 IC 測試系統(tǒng)搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運作特性。根據(jù)客戶實際要求，小編推薦選用RK-TH-408高低溫交變濕熱試驗箱，并提供兩種溫度操作模式：高低溫及恒定溫濕度測試。
    閃存多采用恒定溫濕度測試模式來進(jìn)行交變濕熱測式，將閃存與RK-TH-408使用t型熱電偶相互連接，如此即可掌控受測物達(dá)到機(jī)臺所設(shè)定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內(nèi)嵌式記憶體eMMC 溫度測試。RK-TH-408高低溫交變濕熱試驗箱可與多種類型工程機(jī)聯(lián)用，進(jìn)行芯片高低溫測試。