HAST與HALT、HASS之間的關(guān)系與區(qū)別
作者：
salmon范
編輯：
瑞凱儀器
來源：
m.hlgsj12.cn
發(fā)布日期： 2020.11.09
高加速應(yīng)力試驗(HAST)是指，通過使用高于正常工作應(yīng)力，對器件實施相應(yīng)試驗，確定器件薄弱環(huán)節(jié)及極限參數(shù)。主要分為高加速壽命試驗(HALT)和高加速應(yīng)力篩選(HASS)，其特點是通過人為的對器件施加各種遠超過器件設(shè)計規(guī)范規(guī)定的敏感應(yīng)力組合，快速地將器件內(nèi)部缺陷或薄弱環(huán)節(jié)激發(fā)出來，從而剔除有缺陷的器件，提高器件使用可靠性。
高加速壽命試驗(HALT)屬于破壞性試驗，主要使用在器件的設(shè)計環(huán)節(jié)，通過逐步升高器件的試驗應(yīng)力，確定器件的工作裕度值，從而得出器件對環(huán)境的耐受能力，改進設(shè)計。同時通過對器件實施一系列的高加速壽命試驗(HALT)，還可以確定器件在環(huán)境應(yīng)力作用下的各應(yīng)力極限值，為后續(xù)的高加速應(yīng)力篩選(HASS)剖面參數(shù)的設(shè)計提供依據(jù)，得到高效的篩選剖面。HALT試驗的實施，一方面提高了器件的可靠性，另一方面也降低了器件的設(shè)計周期和維護成本。
高加速應(yīng)力篩選(HASS)是以傳統(tǒng)的ESS為根本發(fā)展起來的一種工藝方法，如表1所示，其目的在于，在不過度損傷器件有效壽命的基礎(chǔ)上，選用高水平的篩選應(yīng)力組合，高效的發(fā)現(xiàn)并剔除缺陷器件，提高器件在實際應(yīng)用中的可靠性。
表1 高加速應(yīng)力篩選與傳統(tǒng)ESS的比較
國外進口的工業(yè)級電子器件，一般采用的是常規(guī)的篩選方法，當這種經(jīng)過常規(guī)篩選的電子器件用于嚴苛的航天任務(wù)時，器件中未篩選出來的有缺陷的產(chǎn)品將發(fā)生失效，導(dǎo)致器件使用可靠性低，因此有必要針對電子器件進行高加速應(yīng)力篩選技術(shù)的研究，通過更高的篩選應(yīng)力將器件中有缺陷的產(chǎn)品盡可能多的篩選出來。
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