1、范圍

高度加速的溫度和濕度的試驗(yàn)是為評價非可靠性，密封包裝的固體在潮濕的環(huán)境狀態(tài)裝置的用途。它采用外部防護(hù)材料（密封材料或蓋章）或沿外部之間的防護(hù)材料以及所通過它通過金屬導(dǎo)體接口。激活的應(yīng)力通常作為“85℃/85%RH”穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗(yàn)（JEDEC標(biāo)準(zhǔn)第22號- A101）相同的失效機(jī)理。

2、儀器

測試需要一個壓力室保持特定的溫度和相對濕度持續(xù)能力，同時提供被測電氣連接的設(shè)備在指定的偏置配置—— HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱
2.1控制條件
必須能夠提供在斜坡上升的壓力，溫度和相對濕度控制的條件下，和斜坡下降從指定的測試條件。校準(zhǔn)記錄應(yīng)確認(rèn)該設(shè)備避免冷凝設(shè)備上測試下（被測件）在炎熱的斜坡上升和斜坡下降的熱負(fù)荷量和（零DUT的功耗）的條件比50℃。校準(zhǔn)記錄應(yīng)核實(shí)，對于穩(wěn)定狀態(tài)的條件和熱負(fù)荷大，測試條件下，在3.1內(nèi)指定的公差維持。
2.2溫度分布
對每個測試周期永久記錄的溫度曲線，建議，使壓力的有效性可以驗(yàn)證。
2.3設(shè)備壓力下
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱必須物理位置，以盡量減少溫度梯度。壓力之下裝置應(yīng)設(shè)在不低于3厘米的內(nèi)部腔表面，絕不能受到直接從加熱器輻射熱。對哪些設(shè)備安裝應(yīng)著眼于盡量減少與蒸汽循環(huán)干擾議會。
2.4限度地減少污染釋放
必須小心的木板和插座材料的選擇，盡量減少污染排放和減少退化，由于腐蝕和其他機(jī)制。
2.5離子污染
離子污染測試儀器（卡籠，測試板，插座，電線儲藏容器等），應(yīng)加以控制，避免測試工件。
2.6去離子水
去離子與的1兆歐電阻在室溫下厘米的水不得使用。

3、測試條件

測試條件包括溫度，相對濕度，并與電力偏見配置特定于設(shè)備結(jié)合在一起的時間。
3.1溫度，相對濕度和期限
注1：公差適用于整個可用試驗(yàn)區(qū)。
注2：僅供參考.
注3：測試條件適用于任何臨時外讀數(shù)不斷。
注4：臨時讀數(shù)，設(shè)備應(yīng)退還強(qiáng)調(diào)在4.5內(nèi)指定的時間。
注5：對于部件達(dá)到24小時或更短時間內(nèi)吸收均衡，加速壽命試驗(yàn)測試至少相當(dāng)于1000小時85℃/85%RH相對濕度。對于部分需要超過24小時，達(dá)到指定的加速壽命試驗(yàn)條件的平衡，時間應(yīng)延長，使部分達(dá)到平衡。
注6：注意：對于塑料封裝的微電路，它是已知的有效水分減少玻璃成型復(fù)合轉(zhuǎn)變溫度。上述有效玻璃化轉(zhuǎn)變溫度應(yīng)力溫度可能導(dǎo)致失敗的機(jī)制無關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)85℃/85%RH相對濕度壓力。
3.2偏置指南
申請偏見根據(jù)以下原則：
1）盡 量減少功率損耗。
2）盡可能管腳偏見。
3） 發(fā)布到金屬片上的差異盡可能。
4）工作范圍 內(nèi)限度地提高電壓。
注意： .上述指南優(yōu)先取決于機(jī)制和具體設(shè)備的特性。
5）  以下兩種類型的偏見可以用來滿足這些準(zhǔn)則，更嚴(yán)重者為準(zhǔn)：
1）  連續(xù)偏差-直流偏置應(yīng)適用繼續(xù)。連續(xù)偏見比騎車更嚴(yán)重偏差時，模具溫度=*10℃， 比室環(huán)境溫度較高或，如果芯片溫度不知道當(dāng)DUT的熱量低于200 mW的。如果DUT的散熱超過200毫瓦，那么模具溫度應(yīng)計(jì)算。如果芯片溫度超過超過5℃的環(huán)境溫度則室以上室周圍的模具溫度升高，應(yīng)在測試結(jié)果的報(bào)告，因?yàn)槭〉臋C(jī)制，加速包括將受到影響。
2）  循環(huán)的偏見-直流電壓適用于被測試的設(shè)備應(yīng)定期與適當(dāng)?shù)念l率和占空比中斷。如果在上述會議廳周圍，△Tja 。超過10℃，然后循環(huán)偏見，當(dāng)一個特定的設(shè)備類型溫度。上升偏置優(yōu)化配置的結(jié)果，將會更重于連續(xù)偏見。由于功耗的結(jié)果往往會推動加熱水分遠(yuǎn)離死亡，從而阻礙水分有關(guān)的失效機(jī)理。循環(huán)偏差允許在關(guān)閉期間的水分收集裝置的功耗時不會發(fā)生的死亡。騎自行車用50%的占空比DUT的偏見，是適合大多數(shù)塑料封裝的微電路。在循環(huán)應(yīng)力期應(yīng)="2小時在軟件包”= 2毫米厚的=“30分鐘包"2毫米的厚度。模具的溫度，在已知的熱阻抗和散熱計(jì)算，應(yīng)當(dāng)引述的結(jié)果時，它超過5℃或以上的室環(huán)境。
3.2.1選擇和報(bào)告
選擇連續(xù)或周期性的偏見，以及是否報(bào)告的數(shù)額，其中片溫度超出室環(huán)境溫度的標(biāo)準(zhǔn)，總結(jié)如下表：
炎熱干燥的環(huán)境或條件，在設(shè)備上和電氣裝置冷凝結(jié)果應(yīng)避免，特別是在斜坡上升和斜坡下降。
4.1斜升
到達(dá)的時間不得少于3小時穩(wěn)定的溫度和相對濕度的條件。
應(yīng)避免冷凝，確保試驗(yàn)室（干球）溫度超過在任何時候，濕球溫度，而利率上升的坡道，不得高于速度可以確保任何DUT的溫度不落后下面的濕球溫度。
在干和濕球溫度，應(yīng)保持這樣的相對濕度不低于50%顯著加熱后開始點(diǎn)。在干燥室，會議廳周圍本來可以比這少雨。
4.2緩降
在部分的斜坡向下一個輕微的正面表壓（約104℃折射率濕球溫度）應(yīng)足夠長，以避免由于測試工件快速減壓，但不得超過3小時。
在坡道的第二部分從104℃折射率濕球溫度降低到室溫，應(yīng)會出現(xiàn)室通風(fēng)。沒有時間限制，并迫使該船的冷卻是允許的。
冷凝設(shè)備上應(yīng)避免在坡道的兩個部分，確保了試驗(yàn)室（干球）溫度超過在任何時候，濕球溫度。
緩降應(yīng)保持成型封裝模具的復(fù)合水分。因此，相對濕度不得低于50%時的斜下的部分， 第1段。
4.3測試時鐘
測試時鐘啟動時的溫度和相對濕度達(dá)到設(shè)定點(diǎn)，在坡道開始下降停止。
4.4偏差
偏差在斜坡上升和斜坡下降的應(yīng)用是可選的。偏差應(yīng)核實(shí)后加載裝置，之前的測試時鐘開始。偏置還應(yīng)當(dāng)驗(yàn)證測試后時鐘停止，但在設(shè)備移離會議廳。
注意我們建議限流電阻（s）， 在HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱放在試驗(yàn)板，以防止破壞或DUT的短期發(fā)展情況在測試過程中。
4.5讀出
電氣試驗(yàn)應(yīng)執(zhí)行后，沒有坡道盡頭式后超過48小時。注：中間讀數(shù)，設(shè)備，應(yīng)退還內(nèi)96小時的坡道盡頭的壓力了。水分的損失后，從設(shè)備，從他們的去除率可減少放置在密封防潮袋中的設(shè)備（不干燥劑）。當(dāng)設(shè)備放置在密封袋的“測試窗口鐘”運(yùn)行在1 /暴露環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備率3。因此，測試窗口可以擴(kuò)展到多達(dá)144小時，時間回到應(yīng)力封閉裝置中的水分防袋多達(dá)288小時。
4.6處理
適合手應(yīng)包括用于處理設(shè)備，電路板及固定裝置。污染控制是很重要的任何高度，加速水分的壓力測試。

5、失效準(zhǔn)則

一個設(shè)備將被視為失敗的高加速的溫度和濕度的測試參數(shù)限制，如果超過，或功能不能在名義和壞在適用的采購文件或數(shù)據(jù)表中指定條件的證明。

6、安全

按照設(shè)備制造商—— 瑞凱儀器的建議和當(dāng)?shù)氐陌踩?guī)則。