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聚焦瑞凱,傳遞環(huán)境檢測行業(yè)新動態(tài)

高溫板(IC托盤)成功完成1000小時135度測試

作者: salmon范 編輯: 瑞凱儀器 來源: m.hlgsj12.cn 發(fā)布日期: 2020.11.02

    高溫板即IC托盤,IC托盤是半導體芯片企業(yè)為其芯片作包裝及烘烤測試所用的載體。因為其具可以在120℃~220℃ 不等的烘烤(BAKE)環(huán)境下不變形的特性,所以電子廢料業(yè)內(nèi)俗稱為“高溫板”。近日,東莞市瑞凱環(huán)境檢測儀器有限公司的客戶伙伴上海某芯片制造商利用瑞凱高低溫試驗箱對高溫MCU板做高溫試驗,并成功通過1000小時135度測試。

高低溫試驗箱,高溫板,IC托盤

    這塊高溫MCU板非常適合在高溫場景下對待測芯片進行控制。比如在125度老化測試中,對芯片IO管腳的翻轉控制;比如在135度高低溫試驗箱內(nèi)對芯片進行的循環(huán)測試,控制芯片的反復Reset等。使用高溫板可以避免待測芯片在高低溫試驗箱內(nèi),需要拉出很長的控制線到外部的種種不便和速度限制。
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