目前我司生產的二極管使用的老化篩選項目有高溫儲存老化、高低溫循環(huán)老化、高低溫沖擊老化和高溫功率老化等。下面把各個試驗方法作一簡要介紹： 

    （1）、高溫儲存老化：把二極管器件置于150℃的高低溫試驗箱內放置168小時，考慮到我司實際情況，目前放置時間為48小時。 
    （2）、高低溫循環(huán)老化：把二極管器件置于-55℃的低溫中15分鐘，然后置于25℃的環(huán)境中5分鐘，再置于150℃的環(huán)境中15分鐘，如此循環(huán)10次。 
    （3）、高低溫沖擊老化：把二極管器件置于0℃的環(huán)境中5分鐘，然后取出馬上置于100℃的環(huán)境中5分鐘，接著取出馬上置于0℃的環(huán)境中5分鐘，如此循環(huán)10次。 
    （4）、高溫功率老化：對于普通整流管、開關管等施加80％的VR額定電壓，然后置于125℃的環(huán)境中168小時，考慮到我司實際情況，目前是置于105℃的環(huán)境中48小時；對穩(wěn)壓管我司目前是施加66％的功率置于70℃的環(huán)境中48小時。 

    二極管的加速壽命試驗 

    加速壽命試驗是指采用加大應力的方法促使樣品在短期內失效，以預測在正常工作條件或儲存條件下的可靠性，但不改變受試樣品的失效分布。 
    通過加速壽命試驗可達到以下目的： 
    （1）、在較短時間里，對高可靠元器件的可靠性水平進行評估，可用外推法快速預測在規(guī)定條件下的失效率； 
    （2）、在較短時間內，對元器件可靠性設計、工藝改進和可靠性增長的效果進行評估； 
    （3）、在較短時間內，加速暴露元器件失效模式和機理，從而可正確地制定失效判據和篩選條件。 
    必須指出，元器件的電氣規(guī)格參數(shù)指標與其性能穩(wěn)定可靠是不同的概念，兩者之間并沒有直接的聯(lián)系。規(guī)格參數(shù)良好的元器件，它的可靠性不一定高；相反，規(guī)格參數(shù)差一些的元器件，其可靠性也不一定低。電子元器件的大部分規(guī)格參數(shù)都可以通過儀表立即測量出來，但是它們的可靠性和穩(wěn)定性卻必須通過各種可靠性試驗，或者大量（或長期）的使用之后才能判斷出來。 
    電子元器件的失效率數(shù)據，可以通過對它的可靠性試驗求得： 
    λ＝失效率＝失效數(shù)÷（試驗器件的總數(shù)×運用時間） 
    失效率的常用單位是Fit（1Fit＝10-9/h），一百萬個元器件運用1000h有1個失效，就叫做1Fit。失效率越低，說明元器件的可靠性越高。 

    二極管使用的一些注意事項 

    二極管應該按照極性接入電路，大部分情況下，應該使二極管的正極（或稱陽極）接電路的高電位，而穩(wěn)壓二極管的負極（或稱陰極）要接電源的正極，其正極接電源負極。 
    二極管正常工作需要一定的條件，如果工作條件超過允許的范圍，則不能正常工作，甚至造成永久性的損壞。為使二極管能夠長期穩(wěn)定運行，必須注意下列事項： 
    （1）、切勿使電壓、電流超過器件手冊中規(guī)定的極限值，并應根據設計原則選取一定的裕量。 
    （2）、允許使用小功率電烙鐵進行焊接，焊接時間應該小于3～5s，在焊接點接觸型二極管時，要注意保證焊點與管芯之間有良好的散熱。 
    （3）、玻璃封裝的二極管引線的彎曲處距離管體不能太小，一般不少于2mm。 
    （4）、二極管的位置盡可能不要靠近電路中的發(fā)熱元件。 
    （5）、用穩(wěn)壓管時應注意，二極管的反向電流不能無限增大，否則會導致二極管中的熱量過高而燒毀。因此，穩(wěn)壓管在電路中一般需要串聯(lián)限流電阻，以限制耗散功率。