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電子產(chǎn)品老化溫度及時間確認(rèn)

作者: 網(wǎng)絡(luò) 編輯: 瑞凱儀器 來源: m.hlgsj12.cn 發(fā)布日期: 2021.05.11
    所謂老化試驗是在不破壞產(chǎn)品失效的基礎(chǔ)上施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力,將其內(nèi)部的潛在缺陷加速變成故障,盡快達(dá)到浴盆曲線中期失效。通常都以溫度作為應(yīng)力而常見,公式參見下面。
    SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t] 
    式中,SS——篩選強(qiáng)度(篩選出的缺陷品數(shù)的平均值/總的潛在缺陷品) 
    R——高溫與室溫(一般取25℃)的差值
    t——恒定高溫持續(xù)時間(h)
    e= 2.718282

    篩選強(qiáng)度與溫度、時間對應(yīng)表:

電子產(chǎn)品老化溫度及時間確認(rèn)

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