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電信終端產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下運(yùn)行或存儲(chǔ)之試驗(yàn)方法

作者: salmon范 編輯: 瑞凱儀器 來(lái)源: m.hlgsj12.cn 發(fā)布日期: 2019.06.14
    測(cè)試目的:驗(yàn)證被測(cè)終端在高低溫環(huán)境下運(yùn)行或存儲(chǔ)的環(huán)境適應(yīng)能力
    測(cè)試儀器: 高低溫試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    技術(shù)參數(shù):
    1) 高溫存儲(chǔ):70±2℃ 試驗(yàn)時(shí)間:48H(溫度穩(wěn)定后開(kāi)始計(jì)算);
    2) 低溫存儲(chǔ):-40±2℃ 試驗(yàn)時(shí)間:48H(溫度穩(wěn)定后開(kāi)始計(jì)算);
    3) 溫度沖擊存儲(chǔ):溫度在-40±2℃/60±2℃之間交替,10個(gè)循環(huán);
    4) 高溫工作:50±2℃ 試驗(yàn)時(shí)間:24H(溫度穩(wěn)定后開(kāi)始計(jì)算);
    5) 低溫工作:-20±2℃ 試驗(yàn)時(shí)間:24H(溫度穩(wěn)定后開(kāi)始計(jì)算);
    6) 高溫高濕工作:溫度40±3℃,濕度93±3%   試驗(yàn)時(shí)間:24H(溫濕度穩(wěn)定后開(kāi)始計(jì)算)。

    預(yù)置條件:被測(cè)終端功能完好,外觀正常。

終端產(chǎn)品

    測(cè)試步驟
    1) 在常溫下對(duì)被測(cè)終端進(jìn)行外觀、功能檢查;
    2) 將被測(cè)終端關(guān)機(jī)狀態(tài)放進(jìn)高低溫試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到70±2℃溫度,溫度達(dá)到穩(wěn)定后持續(xù)存儲(chǔ)48小時(shí);
    3) 將被測(cè)終端從試驗(yàn)箱取出在常溫中恢復(fù)2小時(shí)后,進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查,要求外觀、裝配、功能與測(cè)試前無(wú)明顯差異;
    4) 在常溫下對(duì)被測(cè)終端進(jìn)行外觀、功能檢查;
    5) 將被測(cè)終端關(guān)機(jī)狀態(tài)放進(jìn)高低溫試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從常溫下降到-40±2℃溫度,溫度達(dá)到穩(wěn)定后持續(xù)存儲(chǔ)48小時(shí);
    6) 將被測(cè)終端從試驗(yàn)箱取出在常溫中恢復(fù)2小時(shí)后,進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查,要求外觀、裝配、功能與測(cè)試前無(wú)明顯差異;
    7) 在常溫下對(duì)被測(cè)終端進(jìn)行外觀、功能檢查;
    8) 將樣機(jī)關(guān)機(jī)狀態(tài)放進(jìn)冷熱沖擊試驗(yàn)箱,樣機(jī)先在-40℃環(huán)境下存儲(chǔ)1小時(shí),在5分鐘之內(nèi),溫度上升到60℃存儲(chǔ)1小時(shí),此為一個(gè)循環(huán)。樣機(jī)共測(cè)試10個(gè)循環(huán);
    9) 將被測(cè)終端從試驗(yàn)箱取出在常溫中恢復(fù)2小時(shí)后,進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查,要求外觀、裝配、功能與測(cè)試前無(wú)明顯差異;
    10) 在常溫下對(duì)被測(cè)終端進(jìn)行外觀、功能檢查;
    11) 將待測(cè)樣機(jī)開(kāi)機(jī)狀態(tài),插入用戶(hù)卡,T-flash卡放進(jìn)高低溫試驗(yàn)箱,其中一臺(tái)樣機(jī)插上充電器,另一臺(tái)樣機(jī)使用電池供電開(kāi)機(jī);
    12) 高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到設(shè)定的溫度,溫度達(dá)到穩(wěn)定后持續(xù)24小時(shí);
    13) 將樣機(jī)從試驗(yàn)箱取出在常溫中恢復(fù)2小時(shí)后,進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查,要求外觀、裝配、功能與測(cè)試前無(wú)明顯差異,因電池沒(méi)電導(dǎo)致的無(wú)法開(kāi)機(jī)不算故障,可充電后再進(jìn)行檢查;
    14) 在常溫下對(duì)被測(cè)終端進(jìn)行外觀、功能檢查;
    15) 將待測(cè)樣機(jī)開(kāi)機(jī)狀態(tài),插入用戶(hù)卡,T-flash卡放進(jìn)高低溫試驗(yàn)箱,其中一臺(tái)樣機(jī)插上充電器,另一臺(tái)樣機(jī)使用電池供電開(kāi)機(jī)。
    16) 高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到設(shè)定的溫度,濕度設(shè)定為標(biāo)準(zhǔn)要求的濕度,溫濕度達(dá)到穩(wěn)定后持續(xù)24小時(shí);
    17) 將樣機(jī)從試驗(yàn)箱取出在常溫中恢復(fù)2小時(shí)后,進(jìn)行外觀、裝配、功能檢查,要求外觀、裝配、功能與測(cè)試前無(wú)明顯差異,因電池沒(méi)電導(dǎo)致的無(wú)法開(kāi)機(jī)不算故障,可充電后再進(jìn)行檢查。
    預(yù)期結(jié)果
    1) 步驟3后,被測(cè)終端外觀無(wú)明顯變化,基本功能正常;
    2) 步驟6后,被測(cè)終端外觀無(wú)明顯變化,基本功能正常;
    3) 步驟9后,被測(cè)終端外觀無(wú)明顯變化,基本功能正常;
    4) 步驟13后,被測(cè)終端外觀無(wú)明顯變化,基本功能正常;
    5) 步驟17后,被測(cè)終端外觀無(wú)明顯變化,基本功能正常.
    備注: 高低溫試驗(yàn)箱共4臺(tái),分為兩組,兩組并行測(cè)試,每組內(nèi)的測(cè)試項(xiàng)串行測(cè)試:
    組:高溫存儲(chǔ)、低溫存儲(chǔ)、溫度沖擊;
    第二組:高溫工作、低溫工作、高溫高濕。
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