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電容屏帶電雙85老化測試

作者: salmon范 編輯: 瑞凱儀器 來源: m.hlgsj12.cn 發(fā)布日期: 2019.09.21
    電容屏在不帶電條件下通過行業(yè)內(nèi)嚴酷的雙85可靠性測試后,為了進一步驗證電容屏在經(jīng)過持續(xù)通電條件下是否仍具有優(yōu)異的可靠性和穩(wěn)定性。近期,某品牌技術團隊專門對應用低阻透明導電膜生產(chǎn)的電容屏產(chǎn)品進行了更為苛刻的帶電壓雙85老化測試(即抗銀遷移測試)。

    一、測試裝置及條件

    1、測試裝置: 高低溫交變濕熱試驗箱(RK-TH-408L)
    2、測試條件:通電32V(85℃+85%RH);
    3、測試時間:持續(xù)240H
    4、測試標準:環(huán)測前/后的數(shù)據(jù)對比差異值小

    二、測試內(nèi)容

    1、測試產(chǎn)品:某品牌65寸TP
    2、測試數(shù)量:1片

    3、物料情況:

物料情況

    三、測試結果

    1、某品牌電容屏測試前后的基本性能

某品牌電容屏測試前后的基本性能

    2、電容屏測試后的基本性能:經(jīng)帶電壓(32V)85℃/85%RH.測試后,某品牌電容屏依然保持原有的性能特性,對比測試前后的充電電壓數(shù)據(jù)及充電時間數(shù)據(jù)均在要求范圍內(nèi),證明透明導電膜無機材料制成的TP可以通過帶電壓雙85環(huán)測,不會出現(xiàn)納米銀線導電膜常有的銀遷移現(xiàn)像,性能穩(wěn)定可靠。
    本次帶電壓雙85測試結果再次充分表明,應用某品牌技術制成的49寸、55寸、65寸、75寸、86寸電容屏產(chǎn)品,相比納米銀線、金屬網(wǎng)格等產(chǎn)品更具有穩(wěn)定性和可靠性優(yōu)勢,不存在銀遷移隱患,可以放心應用于商用顯示及智能家居等領域。
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