1、低溫試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007
2、高溫試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007
3、恒定濕熱試驗:
環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001
4、交變濕熱試驗:
:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005
5、振動試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）    GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995
6、溫度變化試驗
環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009 
7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗：
環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009
8、自由跌落試驗：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990
9、機(jī)械沖擊試驗：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊  GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987
10、碰撞試驗：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987
11、傾跌與翻倒試驗：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982
12、砂塵試驗：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994
13、鹽霧試驗：
人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006 
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分: 試驗方法 試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981
14、溫度沖擊：
環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009
15、外殼防護(hù)試驗：
外殼防護(hù)等級（IP代碼） GB 4208-2008，IEC 60529:2001
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000
16、低溫/振動(正弦)綜合試驗：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983
17、高溫/振動(正弦)綜合試驗：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗  GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983
18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合 GB/T 2423.59-2008    
19、（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合GB/T 2423.102-2008
20、可靠性試驗：
設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案   GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978
設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗 GB/T 5080.6-1996  ，IEC 60605-6:1989
設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案   GB/T 5080.5-1985  ，IEC 60605-5:1982
設(shè)備可靠性試驗 可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法 (指數(shù)分布)   GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978
可靠性試驗 第2部分：試驗周期設(shè)計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994
可靠性試驗 第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001