因?yàn)槟壳暗臏y試方式都不足以代表完整LED芯片的使用壽命和需花費(fèi)冗長的時(shí)間。因此，有其他的團(tuán)隊(duì)開始研究加速壽命測試方式和壽命推估模型，而Highlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)是目前有可能拿來做加速壽命推估的測試方法。